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宜特檢測(cè)Keithley 參數(shù)分析儀

文章來(lái)源:www.istgroup.com 上傳時(shí)間:2017-12-08 瀏覽次數(shù):
文章摘要:電性失效分析,上海Keithley參數(shù)分析,宜特檢測(cè)Keithley 參數(shù)分析儀操作簡(jiǎn)易量測(cè)快速的 KEITHLEY 4200-SCS 半導(dǎo)體特性系統(tǒng)提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)的DC組件及導(dǎo)體組件特性量測(cè)、電性故障分析量測(cè)(EFA, Electrical Failure Analysis)、實(shí)時(shí)曲線(xiàn)繪圖(IV-CURVE) 、高精確性及Sub-fA 高分辨率的量測(cè)分析。KEITHLEY 4200 將大部分的功能...

電性失效分析,上海Keithley參數(shù)分析,宜特檢測(cè)

Keithley 參數(shù)分析儀

操作簡(jiǎn)易量測(cè)快速的 KEITHLEY 4200-SCS 半導(dǎo)體特性系統(tǒng)提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)的DC組件及導(dǎo)體組件特性量測(cè)、電性故障分析量測(cè)(EFA, Electrical Failure Analysis)、實(shí)時(shí)曲線(xiàn)繪圖(IV-CURVE) 、高精確性及Sub-fA 高分辨率的量測(cè)分析。KEITHLEY 4200 將大部分的功能都整合在一個(gè)系統(tǒng)里,包含了PC,Windows NT Operation System,Hard disk超大的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存空間。KEITHLEY 4200 的隨點(diǎn)即用的Windows接口加快及簡(jiǎn)化了讀取資料步驟,所以使用者可以很快分析結(jié)果,內(nèi)建的強(qiáng)大測(cè)試工具可以讓測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)化以確保相同的測(cè)試結(jié)果。


應(yīng)用:

  • DC組件及導(dǎo)體組件特性量測(cè)

  • 電性故障分析量測(cè)(EFA, Electrical Failure Analysis)

  •  輔助后續(xù)電性測(cè)試(Force V measure I / Force I measure V)

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機(jī)臺(tái)限制:
具多4 Channels、特高電壓100 V、特大限流100 mA,功率為2 W。

  • 簡(jiǎn)易:隨點(diǎn)即用的Windows操作環(huán)境.操作簡(jiǎn)單.存盤(pán)方便(可直接儲(chǔ)存圖文件及data數(shù)據(jù)文件)。

  • 高解析:有特殊的訊號(hào)放大器可使SMU分辨率達(dá)至0.1fA。

  • 快速:使用PC操作系統(tǒng)提供快速的測(cè)試設(shè)定,強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析及繪