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宜特檢測Thermal EMMI分析

文章來源:www.istgroup.com 上傳時間:2017-12-18 瀏覽次數(shù):
文章摘要:EMMI失效分析,芯片ThermalEMMI分析,宜特檢測Thermal EMMI (InSb)目前偵測IC失效點都以InGaAs、OBIRCH為主,但對于IC非破壞分析的失效點定位、低阻抗短路(<10ohm)和3D封裝失效點深度的預(yù)估分析,需另外尋求其他方法解決。  宜特科技新增Thermal EMMI(InSb)機臺,可以解決IC未開蓋的失效點偵測及低阻抗短路(<10oh...

EMMI失效分析,芯片ThermalEMMI分析,宜特檢測

Thermal EMMI (InSb)

目前偵測IC失效點都以InGaAs、OBIRCH為主,但對于IC非破壞分析的失效點定位、低阻抗短路(<10ohm)和3D封裝失效點深度的預(yù)估分析,需另外尋求其他方法解決。  

宜特科技新增Thermal EMMI(InSb)機臺,可以解決IC未開蓋的失效點偵測及低阻抗短路(<10ohm)的問題分析。 

機臺原理是利用InSb材質(zhì)的偵測器,接收失效點通電后產(chǎn)生的熱輻射分布,藉此定位失效點位置,甚至可以利用失效點熱輻射傳導(dǎo)的時間差,預(yù)估3D封裝的故障點深度,也可以應(yīng)用在偵測TFT LCD面板及PCB/PCBA的失效分析上。

宜特在 Thermal EMMI(InSb) 機臺應(yīng)用 

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iST實驗室優(yōu)勢 

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關(guān)于宜特:

iST始創(chuàng)于1994年的中國臺灣,主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認證等技術(shù)服務(wù)。2002年進駐上海,全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務(wù)據(jù)點,目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。

**咨詢熱線:8009880501

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