TEM透射電子顯微鏡,電子顯微鏡,TEM顯微鏡分析,宜特檢測
透射電子顯微鏡(TEM)
性能特強(qiáng)的材料分析、可達(dá)0.1奈米影像分辨率設(shè)備的TEM，將可針對材料之顯微結(jié)構(gòu)、晶體缺點、化學(xué)成分進(jìn)行分析；搭配上EDS、HAADF(ZC)、應(yīng)力分析等功能，更能得到原子尺度結(jié)構(gòu)與成份信息，解決制程上各種難題。
iST宜特TEM分析四大優(yōu)勢
一、**市場的分析能力：已達(dá)5奈米制程節(jié)點；
二、快速交期：三班制24小時運作；
三、FEI、JEOL等特高階設(shè)備，供您選擇(參見下表)；
四、樣品制備能量：八臺業(yè)界特高階FEI Helios 660 Dual-beam FIB設(shè)備，搭配解除試片損傷層(離子束能量可低至100 eV)的技術(shù)，將協(xié)助您取得特高質(zhì)量TEM影像。
TEM應(yīng)用范圍:
顯微結(jié)構(gòu)分析(晶格影像)
結(jié)晶缺點分析
元素成分分析
薄膜應(yīng)力分析
電子繞射圖分析
雜質(zhì)及污染源分析
機(jī)臺型號／規(guī)格
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務(wù)據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
TEM透射電子顯微鏡
